仪器测试功能:
材料微观形貌表征、相应选区电子衍射观察，配合特征X-射线能谱仪(EDS)进行微区的成分分析。
仪器主要技术参数:
1、加速电压：200 kV；
2、点分辨率：0.248 nm
3、线分辨率：0.144 nm；
4、最高放大倍数：100万倍；
5、探测元素范围：Be-U。
仪器主要应用领域:
1、纳米材料微观形貌表征与结构分析；
2、金属、陶瓷或无机非金属材料的物相结构与结晶性能研究；
3、晶体材料的高分辨显微结构与电子衍射信息；
4、材料界面特性与缺陷结构分析。
透射电子显微镜 (Tecnai G20)
作者： 时间：2026-04-14 浏览：
