仪器测试功能:
1、STEM和TEM两种模式下的超高分辨成像；
2、配备Super-X能谱仪(EDS)可进行原子级成分分析，EDS能量分辨率可达25 meV；
3、配备原位加热杆，进行原位加热实验，最高加热温度1200 ℃；
4、配备STEM四分割探头，通过iDPC技术，实现轻重原子同时成像及敏感样品的成像。
仪器主要技术参数:
1、加速电压：30-300 kV。
2、分辨率：300 kV下STEM分辨率50 pm，TEM信息分辨率60 pm；EDS探测元素范围：Be (原子序数4)–Cm (原子序数96)。
仪器主要应用领域:
该设备主要应用于材料的电子衍射分析、原子级高分辨图像获取、原子级EDS元素成分分析，可在从微米到原子尺度的跨尺度范围内，实现对材料结构、晶体学信息及化学成分的综合表征。
